一、產(chǎn)品介紹 

1、桌面級掃描電鏡：澤攸科技專注于桌面級電鏡研發(fā)制造，ZEM系列掃描電鏡具有體積小巧、移動便捷、維護方便、環(huán)境適應能力強等優(yōu)點，安裝無需特殊環(huán)境，只需一張桌子、市電 220V、50HZ 電源供電即可工作。

2、全中文操作界面：澤攸ZEM系列掃描電鏡采用全中文交互系統(tǒng)，界面簡潔清晰，功能豐富全面，操作方便快捷。只需鼠標就可完成所有操作，不需對中光闌等復雜步驟，聚焦消像散后可直接拍圖。

3、光學導航功能：澤攸ZEM系列掃描電鏡內(nèi)置光學攝像頭，進樣時拍攝導航圖片，鼠標點擊導航圖片任意位置，樣品臺即會實時聯(lián)動導航，快速找到樣品對應的區(qū)域。

4、360°自由旋轉(zhuǎn)：澤攸ZEM系列掃描電鏡擁有便捷的電子束旋轉(zhuǎn)功能，只需要上下滑動鼠標滾輪，便可實現(xiàn)全角度觀察。

5、預對中鎢燈絲：澤攸ZEM系列掃描電鏡采用預對中鎢燈絲，自帶韋氏帽，燈絲已做好預對中，并已發(fā)射驗證，降低燈絲更換難度。

6、電動樣品臺：澤攸ZEM系列掃描電鏡可提供兩軸、三軸、五軸樣品臺，可實現(xiàn)多個軸的運動和組合，靈活性高，為測試樣品提供更為精準的位置坐標，方便精確的測定樣品。

7、低真空模式：澤攸ZEM系列掃描電鏡可選配低真空模式，可在1-60Pa自由切換。對于不導電樣品可不噴金快速檢測，避免噴金對部分樣品表面形貌，能譜(EDS)測試的影響與干擾。

8、減速模式：澤攸ZEM系列掃描電鏡可選配減速模式。對于導電性較差的樣品可不噴金，通過減速模式快速檢測，發(fā)揮低電壓觀察樣品表面細節(jié)的優(yōu)勢。

9、80mm²四分割背散射電子探測器：澤攸ZEM系列掃描電鏡標配四分割背散射電子探測器，總活性面積達80mm²，四個象限可單獨或組合成像，提供多種成像模式。

10、SE/BSE圖像，可任意比例混合成像：澤攸ZEM系列掃描電鏡，可同時采集SE及BSE圖像，可任意比例混合成像，使圖像信息更加豐富。

11、布魯克能譜分析：能譜儀(EDS)主要是用來對材料微區(qū)元素組成進行定性，半定量分析的一種掃描電鏡功能附件。澤攸ZEM系列掃描電鏡預留第三方主流能譜儀廠家接口，滿足用戶的不同選擇。

二、技術特點

1、加速電壓：ZEM20臺式掃描電鏡采用更加寬泛的加速電壓，3kV~30kV連續(xù)可調(diào)，1kv步進。

2、真空分隔技術：采用獨特的真空設計，槍頭一直維持在5*10^-3Pa真空，大大提高鎢燈絲使用壽命。

3、超高分辨率：分辨率可達4nm。

4、高速信號采集：信號采集帶寬10M，可以在視頻模式下流暢實時地顯示樣品。

5、選配減速模式：滿足弱導電樣品不噴金直接觀察、電子束敏感樣品無損觀察的要求。

6、艙內(nèi)攝像頭：樣品艙內(nèi)置高清攝像頭，可實時觀察樣品艙內(nèi)情況。

7、軟件升級：軟件升級自動亮度對比度、自動聚焦、自動消像散、大圖拼接等功能模塊。

8、低真空模式：可選配低真空模式，可在1-60Pa自由切換。

9、五軸樣品臺：可配置五軸樣品臺，方便不同角度檢測樣品。

10、超大樣品艙：超大樣品艙長185mm、 寬176mm、 高125mm，配備豐富的原位擴展接口，可集成多種原位拓展平臺，滿足不同實驗及檢測需求。